康高特使用DV POWER TWA500常州东芝有载分接开关测试

北京康高特仪器设备导读：2023年11月21日，常州东芝变压器厂实验中心有载分接开关测试。TWA500 三相绕组电阻及有载分接开关测试仪可以完成变压器的三相直阻、退磁、有载分接开关（动态电阻、同步、电机电流、温度、振动）测试，对变压器的绕组、有载分接开关状态做出准确评估。
使用TWA500 DV test测试录波速率为0.1ms，与传统DRM技术相比优势巨大（动态电阻计数录波典型速率10ms）。

此方法是一种新的测试技术，可以快速准确离线测量，其原理是当绕组连同有载分接开关调压时，测试输出的直流通过，设备记录此电流，在快速过渡的过程中监护电流变化。

此方法是一种“指纹”测试技术，在新出厂或大修后使用相同的测试设置可以检查有载分接开关调档线性度、开关位置、过渡时间、纹波变化，对应如触点磨损，松动，切换开关电阻器损坏，异常电弧等故障问题。

对于YN组别也可以同时测量三相，观察是否存在同步不一致性问题（＜3ms或制造商值）。

TWA500 三相绕组电阻及有载分接开关测试仪可以完成变压器的三相直阻、退磁、有载分接开关（动态电阻、同步、电机电流、温度、振动）测试，对变压器的绕组、有载分接开关状态做出准确评估。
使用TWA500 DV test测试录波速率为0.1ms，与传统DRM技术相比优势巨大（动态电阻计数录波典型速率10ms）。
此方法是一种新的测试技术，可以快速准确离线测量，其原理是当绕组连同有载分接开关调压时，测试输出的直流通过，设备记录此电流，在快速过渡的过程中监护电流变化。
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此方法是一种“指纹”测试技术，在新出厂或大修后使用相同的测试设置可以检查有载分接开关调档线性度、开关位置、过渡时间、纹波变化，对应如触点磨损，松动，切换开关电阻器损坏，异常电弧等故障问题。
对于YN组别也可以同时测量三相，观察是否存在同步不一致性问题（＜3ms或制造商值）。

记录有载分接开关1-21档位过渡时间和线性度；记录间隔0.1ms，测试电流15A。

A相数据

21-1档位过渡时间和线性度；记录间隔0.1ms，测试电流15A。

A相数据

调档开关加/减调节线性度一致，切换过程中无突停、连动，开关过渡位置无触点弹跳。
三相开断动态录波曲线同步一致，同步过程中无阶段性差异。
测试结论：

★本次测量有载分接开关升、降档位工作正常。